薄膜電容器主要應(yīng)用于電子、家電、通訊、電力、電氣化鐵路、混合動(dòng)力汽車、風(fēng)力發(fā)電、太陽能發(fā)電等多個(gè)行業(yè)，這些行業(yè)的穩(wěn)定發(fā)展，推動(dòng)了薄膜電容器市場(chǎng)的增長。那么薄膜電容常用耐壓測(cè)試儀的組成是怎樣的呢？
目前市場(chǎng)上可見的耐壓測(cè)試儀主要為調(diào)壓器供電、模擬電路檢測(cè)、以及部分采用全電子程控技術(shù)和功率電子技術(shù)的新型耐壓測(cè)試儀。目前的新型耐壓測(cè)試儀器主要分為兩種:一種是采用單片機(jī)作為監(jiān)控中心、數(shù)字波形合成技術(shù)和線性功率放大器作為測(cè)試電源；另一種也是采用單片機(jī)作為監(jiān)控中心、測(cè)試電源則采用SPWM(正弦脈寬調(diào)制)脈沖發(fā)生器和IGBT(絕緣柵雙極晶體管)脈沖功率放大器。
這些新型耐壓測(cè)試儀的輸出波形失真小，輸出電壓調(diào)整范圍寬、控制精度高，在功率范圍內(nèi)的輸出電壓穩(wěn)定，不受負(fù)載變化的影響，測(cè)試電源輸出功率一般可達(dá)到500W,超功率輸出時(shí)儀器能自動(dòng)保護(hù)，輸出電壓設(shè)置在無電壓輸出的情況下進(jìn)行，安全性好，對(duì)被試品有電弧、爬電、閃絡(luò)等絕緣性能方面的潛在隱患的檢測(cè)容易實(shí)現(xiàn)，能否準(zhǔn)確檢測(cè)出薄膜電容是否存在隱患。
電壓輸出方式可通過軟件滿足多種標(biāo)準(zhǔn)要求，如分段升壓、定時(shí)升壓、定速升壓等，能進(jìn)行擊穿點(diǎn)分析，擊穿保護(hù)速度快，漏電流顯示分辨率可達(dá)納安級(jí)，適用于薄膜電容這種高標(biāo)準(zhǔn)的元器件測(cè)試。
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